成都涂層檢測(cè)儀信息
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鍍層測(cè)試儀鍍鉻厚度分析儀EDX2000A
X射線測(cè)厚儀: 利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)...
江蘇天瑞儀器股份有限公司 05月15日面議 四川成都 -
金屬膜厚測(cè)試儀X熒光分析儀天瑞光譜儀
分析時(shí)間30秒分析誤差3%鍍層范圍0.005~50微米元素范圍從硫到鈾天瑞儀器是一家...
江蘇天瑞儀器股份有限公司 05月15日面議 四川成都 -
鍍層檢測(cè)儀鍍金厚度分析儀X射線熒光光譜儀
Thick 8000 鍍層測(cè)厚儀是針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用...
江蘇天瑞儀器股份有限公司 05月15日面議 四川成都 -
鍍層厚度測(cè)試儀X熒光光譜儀光譜儀
X射線鍍層測(cè)厚儀是一種用于測(cè)量材料表面涂層厚度的儀器。工作原理是利用X射線...
江蘇天瑞儀器股份有限公司 05月15日面議 四川成都 -
鍍層測(cè)試儀鍍金層測(cè)厚儀天瑞儀器廠家
X射線測(cè)厚儀: 利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)...
江蘇天瑞儀器股份有限公司 05月15日面議 四川成都 -
XRF儀器電鍍層厚度測(cè)試儀天瑞光譜儀
X射線鍍層測(cè)厚儀是一種用于測(cè)量材料表面涂層厚度的儀器。工作原理是利用X射線...
江蘇天瑞儀器股份有限公司 05月15日面議 四川成都 -
X射線膜厚儀銅鍍銀厚度分析儀
Thick 8000 鍍層測(cè)厚儀是針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用...
江蘇天瑞儀器股份有限公司 05月15日面議 四川成都 -
鍍層厚度測(cè)試儀銅鍍銀厚度分析儀X熒光光譜儀
基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法,提供易于使...
江蘇天瑞儀器股份有限公司 05月15日面議 四川成都 -
鍍層測(cè)厚儀金屬電鍍層分析光譜分析儀
X射線測(cè)厚儀: 利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)...
江蘇天瑞儀器股份有限公司 05月15日面議 四川成都 -
鍍層分析儀化鎳層測(cè)厚儀國產(chǎn)光譜儀
X射線測(cè)厚儀 X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材...
江蘇天瑞儀器股份有限公司 05月15日面議 四川成都 -
光譜儀電鍍鍍層分析儀X熒光光譜儀
X射線鍍層測(cè)厚儀是一種用于測(cè)量材料表面涂層厚度的儀器。工作原理是利用X射線...
江蘇天瑞儀器股份有限公司 05月15日面議 四川成都 -
天瑞儀器X熒光光譜儀化鎳層測(cè)厚儀
鍍層厚度的測(cè)量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測(cè)量法,稱重法,X...
江蘇天瑞儀器股份有限公司 05月15日面議 四川成都 -
鍍層檢測(cè)儀金厚分析儀THICK800A
X射線測(cè)厚儀: 利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)...
江蘇天瑞儀器股份有限公司 05月15日面議 四川成都 -
鍍層測(cè)試儀鍍銀分析儀光譜分析儀
X射線測(cè)厚儀 X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材料的...
江蘇天瑞儀器股份有限公司 05月15日面議 四川成都 -
鍍層厚度測(cè)試儀鍍錫厚度分析儀X熒光光譜儀
Thick 8000 鍍層測(cè)厚儀是針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用...
江蘇天瑞儀器股份有限公司 05月15日面議 四川成都 -
鍍層厚度測(cè)試儀銅鍍銀厚度分析儀X熒光分析儀
臺(tái)式x射線測(cè)厚儀可測(cè)量:單一鍍層:Zn,Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。 二元合金...
江蘇天瑞儀器股份有限公司 05月15日面議 四川成都 -
鍍層檢測(cè)儀銅鍍銀厚度分析儀國產(chǎn)光譜儀
X射線測(cè)厚儀 X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材料的...
江蘇天瑞儀器股份有限公司 05月15日面議 四川成都 -
鍍金厚度分析儀X-ray測(cè)厚儀
X射線測(cè)厚儀: 利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)...
江蘇天瑞儀器股份有限公司 05月15日面議 四川成都 -
鍍層厚度測(cè)試儀鍍銀厚度分析儀國產(chǎn)光譜儀
X射線測(cè)厚儀 X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材...
江蘇天瑞儀器股份有限公司 05月15日面議 四川成都 -
鍍層厚度測(cè)試儀鍍金厚度分析儀X熒光分析儀
基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法,提供易于使...
江蘇天瑞儀器股份有限公司 05月15日面議 四川成都 -
膜厚測(cè)量儀鍍鋅層厚度分析儀
Thick 8000 鍍層測(cè)厚儀是針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用...
江蘇天瑞儀器股份有限公司 05月15日面議 四川成都 -
寧夏正杰電動(dòng)鉛筆硬度計(jì),硬度檢測(cè)鉛筆劃痕儀
試驗(yàn)夾具:固定樣品夾具一套 配備的固定樣品夾具用于牢固夾持樣品,防止測(cè)試過...
東莞市正杰儀器科技有限公司 05月15日2850.00元 四川成都 -
X熒光光譜儀X射線鍍層測(cè)厚儀光譜儀
鍍層范圍0.005~50微米元素范圍從硫到鈾分析時(shí)間30秒分析誤差3%設(shè)計(jì)亮點(diǎn) 上照式...
江蘇天瑞儀器股份有限公司 05月14日面議 四川成都 -
X熒光光譜儀X-ray鍍層測(cè)試儀天瑞儀器
元素范圍從硫到鈾分析時(shí)間30秒分析誤差3%鍍層范圍0.005~50微米金屬測(cè)厚儀使用...
江蘇天瑞儀器股份有限公司 05月14日面議 四川成都 -
XRF儀器鍍銀層測(cè)厚儀光譜儀
分析誤差3%鍍層范圍0.005~50微米元素范圍從硫到鈾分析時(shí)間30秒設(shè)計(jì)亮點(diǎn) 上照式...
江蘇天瑞儀器股份有限公司 05月14日面議 四川成都 -
XRF儀器鍍層膜厚分析儀膜厚儀
分析時(shí)間30秒分析誤差3%鍍層范圍0.005~50微米元素范圍從硫到鈾鍍層測(cè)厚儀在使...
江蘇天瑞儀器股份有限公司 05月14日面議 四川成都 -
X熒光鍍層測(cè)厚儀鍍銀分析儀
X射線測(cè)厚儀 X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材...
江蘇天瑞儀器股份有限公司 05月14日面議 四川成都 -
鍍層測(cè)厚儀鍍鎳厚度分析儀XRF光譜儀
X射線測(cè)厚儀 X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材料的...
江蘇天瑞儀器股份有限公司 05月14日面議 四川成都 -
鍍層測(cè)試儀鍍銀厚度分析儀天瑞分析儀
Thick 8000 鍍層測(cè)厚儀是針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用...
江蘇天瑞儀器股份有限公司 05月14日面議 四川成都 -
鍍層測(cè)厚儀鍍銅厚度分析儀XRF光譜儀
X射線測(cè)厚儀: 利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)...
江蘇天瑞儀器股份有限公司 05月14日面議 四川成都 -
X射線熒光測(cè)厚儀鍍金層測(cè)厚儀
X射線測(cè)厚儀 X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材...
江蘇天瑞儀器股份有限公司 05月14日面議 四川成都 -
鍍層厚度測(cè)試儀鍍鎳層厚度分析儀EDXThick800A
X射線測(cè)厚儀使用而實(shí)用的正比計(jì)數(shù)盒和電制冷探測(cè)器,以實(shí)在的價(jià)格定位滿足鍍層...
江蘇天瑞儀器股份有限公司 05月14日面議 四川成都 -
鍍層檢測(cè)儀鍍鎳層厚度分析儀X熒光光譜儀
X射線測(cè)厚儀 X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材...
江蘇天瑞儀器股份有限公司 05月14日面議 四川成都 -
鍍層測(cè)厚儀鍍銀分析儀天瑞儀器
X射線測(cè)厚儀 X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材料的...
江蘇天瑞儀器股份有限公司 05月14日面議 四川成都 -
鍍層檢測(cè)儀鍍銅厚度分析儀
X射線測(cè)厚儀使用而實(shí)用的正比計(jì)數(shù)盒和電制冷探測(cè)器,以實(shí)在的價(jià)格定位滿足鍍層...
江蘇天瑞儀器股份有限公司 05月14日面議 四川成都 -
X熒光分析儀X熒光鍍層測(cè)厚儀光譜儀
元素范圍從硫到鈾分析時(shí)間30秒分析誤差3%鍍層范圍0.005~50微米X射線鍍層測(cè)厚儀...
江蘇天瑞儀器股份有限公司 05月14日面議 四川成都
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